Hibaanalízis

hiba1Modul oktatója:

Balogh Bálint

Modulprogram:

  • Vizsgálati módszerek, alapelveinek, alkalmazhatóságának és korlátainak ismertetése.
  • Optikai vizsgálatok: optikai mikroszkópia, mikroszkóp típusok, felépítésük, megvilágítási módok. Az optikai rendszerek aberrációi, felbontást és mélységélességet korlátozó tényezők.
  • Materialográfiai (keresztcsiszolati) vizsgálatok: materialográfia szerepe az autóiparban, alkalmazott anyagok, minta előkészítés, a vizsgálatból nyerhető információk és azok korlátai.
  • Röntgenes szerkezetvizsgálatok: röntgenmikroszkópok megvalósítási formái, felépítésük, képalkotási, képfeldolgozási lehetőségek.
  • 3 dimenziós (computer tomográfiai) vizsgálatok alkalmazási területei (hibakeresés, geometriai mérések, valós-CAD modell összehasonlítás, zárványosság mértékének meghatározása) és korlátai (különböző anyagok abszorpciója, geometriai felbontás határai).
  • Pásztázó elektronmikroszkópia: elektronmikroszkóp felépítése, elektronoptikai rendszer aberrációi. Gerjesztett térfogat, szekunder és visszaszórt elektronok, karakterisztikus röntgensugárzás keletkezése, detektálása.
  • Anyagösszetétel vizsgálat elektronsugaras mikroanalízis segítségével.
  • Jellemző hibajelenségek és azok okai: elektrokémiai migráció (dendrit növekedés), whisker képződés, sírkő, forrasz felkúszás (wicking up), head-in-pillow.

hiba2Megszerezhető ismeret:

  • Képessé válik a hiba elemzés módszertanának alkalmazására
  • Képessé válik a vállalati hibaanalízis folyamatának támogatására
  • Képessé válik jellemző hibajelenségek azonosítására és a megfelelő vizsgálati módszer meghatározására
  • Képessé válik különböző vizsgálati módszerek alkalmazhatóságának eldöntésére, kiemelt képen az alábbi vizsgálatok területén:
    • optikai vizsgálatok
    • materialográfiai vizsgálatok
    • röntgenes szerkezetvizsgálatok
    • 3 dimenziós vizsgálatok
    • Pásztázó elektronmikroszkópia vizsgálatok
    • Anyagösszetétel vizsgálatok